電源模塊在出廠前需要經(jīng)過(guò)嚴(yán)格的測(cè)試，高低溫測(cè)試就是其中之一。經(jīng)過(guò)高低溫測(cè)試的模塊電源，可以保證產(chǎn)品的質(zhì)量，降低整個(gè)應(yīng)用過(guò)程中出現(xiàn)異常的概率，增加使用壽命。剛出產(chǎn)線的模組電源雖然可以馬上使用，但很多時(shí)候產(chǎn)品到了客戶手里，卻發(fā)現(xiàn)沒(méi)有貨。這是因?yàn)樵谔幚磉^(guò)程中只做了簡(jiǎn)單的插件測(cè)試，并沒(méi)有在自然環(huán)境下進(jìn)行長(zhǎng)期的插件測(cè)試。

模塊電源最常見(jiàn)的故障發(fā)生在早期和中后期。電源廠商無(wú)法準(zhǔn)確操控中后期，只能操作前期。因此，在將產(chǎn)品交給客戶之前，必須在發(fā)貨前排除問(wèn)題。

模塊電源脆化方法的關(guān)鍵是常溫溫負(fù)載下的脆化和高溫插件高低溫試驗(yàn)。常見(jiàn)的一種是高溫脆化。根據(jù)高溫脆化，可以暴露商業(yè)元件的缺點(diǎn)或質(zhì)量差，從而提高產(chǎn)品的可靠性和可信度。

模組電源的高溫老化是指模擬產(chǎn)品高溫應(yīng)用的自然環(huán)境。高低溫試驗(yàn)時(shí)間通常規(guī)定為12-48小時(shí)。高溫老化有兩個(gè)步驟，一個(gè)是設(shè)置在高溫自然環(huán)境下，插件脆化。另一種是在高溫自然環(huán)境下使用更極端的自然環(huán)境標(biāo)準(zhǔn)沖擊模塊電源。

模塊電源高低溫測(cè)試的作用有哪些？

1.當(dāng)電源模塊老化時(shí)，可在電腦上使用顯示器查看電源在工作姿態(tài)下的統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)，反映電源的應(yīng)用狀況。

2.長(zhǎng)期脆化可以監(jiān)測(cè)溫度變化引起的模塊特性變化。

3.當(dāng)它變脆時(shí)，可以檢查加工過(guò)程中電源的問(wèn)題。模塊可以長(zhǎng)期穩(wěn)定運(yùn)行，提高產(chǎn)品的可信度。

通常在高低溫測(cè)試的整個(gè)過(guò)程中，電源應(yīng)用條件比人們通常使用的自然環(huán)境更加極端，規(guī)格也更加嚴(yán)格。只有這樣的檢測(cè)才能反映模塊電源的可信度，也只有電源模塊廠家才能保證產(chǎn)品質(zhì)量。